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ESD测试仪主要是通过那几个方式产生EMC问题

ESD测试仪其实是一款静电放电发生器,静电是由两种不同物质的互相摩擦,通过正负电荷积蓄在相互摩擦的两个物体而形成高电压。人造纤维和塑料是常见的摩擦起电材料,当摩擦产生电压后,就会出现ESD问题。对于电子元器件来说,静电能量是不能忽视的,它可以击穿半导体元件,从而破坏电子电路。

通常ESD测试仪通过两种主要方式产生EMC问题:即传导方式和辐射干扰方式。

(1)传导方式。静电放电电流直接流过电路中,因为ESD产生很高的电压,如果进入到半导体,就可能产生误操作,并且很容易破坏半导体器件,现代半导体元器件的内部绝缘常常会在几十伏电压下击穿并且永久短路,这是一个很严重的ESD问题,日常生活中这个问题是普遍存在的。

(2)辐射干扰。当静电放电时(可用静电放电测试仪模拟测试),产生的火花电压会产生辐射磁场和电场。磁场能够在附近电路的各个信号环路中感应出噪声电压。由于在很短时间内产生了较大的静电电流,所以在信号环路中产生的噪声电压可能会超过逻辑元器件的阈值电平,引起元器件的误触发。

在电路中,因为人体静电产生的ESD问题是最常见的。干燥气候环境下人体ESD的电压很容易超过8kV、15kV甚至20kV,因此我们需要重视这样的静电电压对PCB及元器件的影响,并采取相应措施防止ESD问题。


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